出獄再犯可能性 大腦掃描預測

【新唐人2013年03月27日訊】（中央社台北27日電）神經科學家聲稱已找到1種方法，透過觀察大腦掃描影像，來預測出獄的罪犯日後是否可能再次犯案。

英國「每日郵報」（Daily Mail）報導，美國影像專家表示，若罪犯大腦中1塊與決定和行動相關的區域活躍程度低，日後再遭逮捕的可能性較高。

新墨西哥州阿爾伯克基（Albuquerque）精神研究網絡（Mind Research Network）神經科學家凱爾（Kent Kiehl）領導的研究團隊，讓96名男性囚犯在獲釋前不久，執行幾項須要快速下決策和抑制衝動反應的電腦任務，同時研究人員掃描受試者的大腦活動。

研究人員利用功能性核磁共振造影（fMRI）進行掃描，主要著重於觀察前扣帶腦皮質（ACC）的活動力；這塊區域與運動控制和執行功能有關。

研究人員在接下來4年繼續追蹤這些受試者，發現在執行快速決策任務中，ACC活躍程度低的前囚犯，出獄後再遭逮捕的可能性較高。

Nature.com網站報導，研究人員得出這項結果之前，已先將年齡、用藥、酗酒及精神病徵等其他風險因子列入考慮。