【新唐人2012年11月29日訊】(中央社記者鍾榮峰台北29日電)針對系統單晶片(SoC)高速傳輸介面測試，測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出數位模組方案。

愛德萬測試表示，系統單晶片裝置有各式介面高速測試需求，包括序列式、並行式及記憶介面(如PCI-Express與雙倍資料傳輸率DDR連接)等。

為支援各種SoC介面測試，愛德萬測試推出數位模組方案，資料傳輸率高達8 Gbps，主要功能包括時脈資料回復(CDR)、抖動注入、I/O死帶消除、多重閃控操作等；模組並具備功能性測試抽象化功能，可進一步縮短週期時間並簡化除錯。